多参数电学性能综合测定仪

多参数电学性能综合测定仪

产品简介

绝缘电阻功能材料电学综合测试系统由华测仪器生产，是一款为科研、材料开发、工业生产等领域设计的测试系统，功能材料电学综合测试系统集成了测量技术、自动化控制技术和效率高的数据分析算法，评估各类功能材料的电学性能，可用于功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试，为材料科学家、工程师和研究人员提供测试支持

产品优势

扩展优势

本套系统可完成功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试，以及高、低温环境下的电学测试。与电学检测仪器在通讯协议、数据库处理和软件兼容性上做了大量的接口，易于扩展，节省改造时间与硬件成本

性能优势

保护：增加TVS保护过压、过流、过温等技术，更加可靠

软件：在测试功能、数据处理、操作等更加人性化方面做了大量的改进

测量：与其它仪器做了大量的测试对标，与计量院通力合作；进行检测计量，确保数据的真实性

研发优势

研发团队拥有多领域、多学科的博士、硕士技术人员，自成立以来获多方科研机构、大学试验室支待，组建 “华测仪器顾问团”

定制化服务

电学试验室拥有泰克、是德科技等大批检测设备；生产制造方面，公司有4轴、5轴CNC加工地等一大批生产、加工设备，在工装、夹具定制化方面更加方便

测试模块

1.铁电参数测试功能

动态电滞回线测试频率

静态电滞回钱测试

脉冲测试

疲劳测试

保持力

印迹

漏电流测试

变温测试功能

2.绝缘电阻测试功能

高准确度的电压输出与电流测量，确保测试的品质，适用于功能材料在高温环境材料的数据的检测。例如：陶瓷材料、硅橡胶测试、PCB、云母也可做为科研院所新新材料的高温绝缘电阻的性能测试

3.压电参数测试功能

可进行压电陶瓷的唯静态d33等参数测试，也可通过高压放均由位移传感器（如勘怪 干涉仪）动态法测量压电系数测量

4.高温四探针测试功能

符合功能材料导体、半导体材料与其他新材料在高温环境下测试多样化的需求。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准及A.S.T.M，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途

5.热释电测试功能

主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。采用电流法进行测量材料的热释电电流、热释电系数、剩余极化强度对温度和时间的曲线

薄膜材料变温范围：－196℃~＋600℃

块体材料变温范围：RT~200℃、RT ~600℃、RT~800°C

6.介电温谱测试功能

用于分析宽频、高低温环境条件下功能材料的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样晶随温度、频率、时间、偏压变化的曲线

7.塞贝克系数／电阻测量系统

适用于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的多种热电性能分析；可根据用户需求配置薄膜测量选件，低温选件温度范围-100℃ ~200℃，高阻选件高至10MΩ

8.电卡效应测试功能

可以用于测试材料，在宽温度范围内的电卡性能

温度范围：-50℃~200℃；

热流时间范围：1s-1000s；

电压可达10kV；

波形：用户自定、脉冲、三角波、正弦波、任意波形、预定义波形

9.热激发极化电流测试仪TSDC

用于研究功能材料性能的一些关键因素，诸如分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等，通过TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间等相关的介电特性

应用领域

铁电材料、电子陶瓷、热释电、薄膜、科学研究、材料开发、工业生产以及器件测试电子、电气、能源等行业