所在位置: 首页> 技术文章> 产品介绍>
文章详情

电压击穿试验仪搭配真空老化罐在高压陶瓷电容器多物理场可靠性测试中的应用

日期:2026-09-02 10:07
浏览次数:9
摘要: 电压击穿试验仪搭配真空老化罐在高压陶瓷电容器多物理场可靠性测试中的应用 高压陶瓷电容器在装备中,长期处于高真空、温度循环、高直流电场多物理场共同作用,真空环境下材料内部弱点会加速演化,造成击穿电压下降,出现早期失效。普通常压击穿设备仅能测试常温常压下新陶瓷样品,无法模拟太空真空环境的协同老化;老化与击穿分开测试,取出样品会改变弱点电荷状态,不能真实评估器件在轨可靠性。HCDJC-200kV 配合真空老化罐,实现真空热老化与 200kV 交直流击穿原位测试,构建真空-温度-电场耦合多物理场试验条件,评估高压陶...

电压击穿试验仪搭配真空老化罐在高压陶瓷电容器多物理场可靠性测试中的应用

高压陶瓷电容器在装备中,长期处于高真空、温度循环、高直流电场多物理场共同作用,真空环境下材料内部弱点会加速演化,造成击穿电压下降,出现早期失效。普通常压击穿设备仅能测试常温常压下新陶瓷样品,无法模拟太空真空环境的协同老化;老化与击穿分开测试,取出样品会改变弱点电荷状态,不能真实评估器件在轨可靠性。HCDJC-200kV 配合真空老化罐,实现真空热老化与 200kV 交直流击穿原位测试,构建真空-温度-电场耦合多物理场试验条件,评估高压陶瓷介质经过空间环境模拟后的电气击穿性能。

一、高压陶瓷电容器传统可靠性测试痛点

常压测试无法模拟太空真空服役环境 常规击穿测试在大气环境完成,没有真空条件,无法模拟低气压,真空下的表面闪络、弱点加速演化现象无法复现。

老化后需要取出样品,电荷状态发生改变 普通真空老化罐做完热真空循环,需要打开腔体拿出陶瓷试样再放到击穿台,暴露大气之后介质内部陷阱电荷释放,真空老化带来的微观损伤状态被改变,击穿结果偏离器件真实在轨表现。

多物理场无法同步加载,单因子试验不能反映耦合效应 分立设备只能单独做真空或者单独做耐压,不能同时施加真空、温度、高压电场,无法研究多因素协同加速失效效应。

缺少阶梯升压、长时耐压模式,难以区分闪络与本体击穿 陶瓷在真空条件易发生表面闪络,仅做快速击穿,无法区分是表面闪络放电还是陶瓷介质本体击穿,失效定位困难。

真空下击穿瞬态信号难以完整采集,闪络前兆漏电流容易丢失。

二、真空老化罐-200kV 主机原位集成式测试,多物理场耦合复现空间工况

HCDJC-200kV 与真空老化罐联动,陶瓷电容器样品放置在密闭罐体内,完成真空温度循环老化之后,不需要开盖取出样品,直接施加 200kV 交直流高压开展击穿、耐压、阶梯升压试验。可同时调控真空度、腔体温度、高压电场,复现真空-温度-电场多物理场耦合服役工况,区分本体介质击穿和真空环境下的表面闪络现象。支持国标、ASTM 等多套试验标准。

三、多样化试验模式,甄别真空环境下不同失效机理

设备支持击穿试验、长时耐压、阶梯升压多种范式,多级循环电压采集与低通滤波电流监测,在真空条件下完整记录从加压直到失效全过程电压、漏电流变化。长时耐压模式可以观察真空环境下长时间电场作用介质弱点缓慢发展;阶梯升压模式可以区分是瞬时高压击穿,还是逐步电场累积损伤导致失效;配合腔体观察窗口,同步观测真空下闪络发光现象,辅助判断失效位置是介质本体还是样品表面。TVS 瞬间防护技术,保护设备不受真空下闪络电弧损伤。

四、自动化多物理场时序流程,完整数据记录与报告输出

触摸屏软件编辑完整试验序列:抽真空、设定温度循环剖面、完成热真空老化,之后切换交直流高压,执行耐压或击穿试验,整套流程自动运行。全部真空参数、温度、高压、电流时序同步保存,可自定义生成试验报告。双系统互锁隔离,保障真空腔体内部高压操作稳定

京公网安备 11010802025692号