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  • 产品名称:差热分析仪

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  • 产品厂商:华测
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简单介绍:
差热分析仪(DTA)是在程序控制温度下,测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时,所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度,从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。 差热分析仪也可以测定试样的热容变化,它在差热xian上发映出基线的偏离。
详情介绍:


                                差热分析仪

【简单介绍】

差热分析(DTA)仪是在程序控制温度下,测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时,所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度,从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。

差热分析仪【详细说明】

 

差热分析

型号(HCCR-3000

差热分析仪相关简介

差热分析仪(DTA)是在程序控制温度下,测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时,所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度,从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。差热曲线(DTA)是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差(T),向上表示放热反应,向下表示吸热反应。差热分析也可以测定试样的热容变化,它在差热xian上发映出基线的偏离。

差热分析仪技术指标

1. 温度范围: 室温~1000℃  
2. 量程范围: 0~±2000μV  
3. DTA精度: ±0.1μV  
4. 升温速率: 1~80℃/min  
5. 温度分辨率: 0.1℃  
6. 温度准确度: ±0.1℃  
7. 温度重复性: ±0.1℃  
8. 温度控制: 升温:程序控制        可根据需要进行参数的调整
             降温:风冷程序控制   可选配半导体冷却系统、液氮冷却系统等
             恒温:程序控制        恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
10. 气氛控制: (选配)气体流量计,气氛转换装置
11. 数据接口: RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示蓝底白字
13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15. 工作电源: AC 220V  50Hz

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