产品详情
简单介绍：
薄膜电容电容器温度特性测量仪由华测仪器生产，是将环境试验箱与仪器相结合，效率采集数据的自动化多通道测量仪。仪器自动评估测量高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性和电容器在不同温度下的关键参数，从而评估其温度特性。该设备精度高、稳定可靠，通道数量多，具有多种测试模式，多种可选夹具，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。
详情介绍：
薄膜电容电容器温度特性测量仪
产品优势
至多64个通道的自动测量可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道。
图形功能允许实时查看测量结果
收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。
可从不同测试模式选择
温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相合。
温度特性评估测试：在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步，频率步数201步（范围可定制）。
持续运行测试：测试模式测量参数的变化随时间推移自动记录数据。
频率特性评价试验：试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。
多种可选夹具 适用于不同的试验样本
除了SMD组件的专用夹具外，还提供了根据离散设备形状定制的夹具。环境试验箱(可定制)
产品参数
测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)测试方法：温度特性评价试验（相对于温度的变化）
恒定运行检测（相对于检测时间的变化）
频率特性评价试验 （相对于频率的变化）
通道配置：8通道（标准）；至多64通道可扩展8通道增量
测量方法：交流四端对测量
测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz
电容量(C)：50 pF ~ 5 mF
损失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
测量仪器：LCR表（可按需选择型号）
直流偏压：0 ~ ±40V
温度测量间隔：1 ℃
扫描周期：64通道可在1min之内完成
频率步长：201步（范围可定制）
补偿：短时补偿，开放补偿
环境试验系统控制：温度数据采集与测量和的温度控制同步，具有RS-485功能的环境测试系统。
测量电缆：由聚四氟乙烯制成的同轴电缆（特性阻抗(Z)，50Ω，95 pF/m）
应用领域
通信与信息技术：在通信设备和信息技术产品中，多通道电容器温度特性评估系统可以提供有效的测试方案，确保产品在各种温度环境下的稳定性和可靠性。电子材料：印刷电路板、通量、绝缘材料（树脂、薄膜等）、介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）。
