高低温冷热台介电温谱测试仪
产品优势
优化样品温度的测量方式及测量电极
1.在样品上溅射一层导电材质,减少空间及杂散电容的影响;
2.采用参比样品的方式进行测量,样品的温度就是材料真实温度。
解决高温环境下测量导线阻抗影响及内部障蔽
1.采用阻抗更匹配的测量导线;
2.缩短测量导线提高测量数据;
3.采用平行板法测量。
产品参数
温控参数
温度范围:-185℃~ 600℃(负温需配液氮制冷系统)
传感器/温控方式:100Ω铂RTD / PID控制(含LVDC降噪电源)
加热/制冷速度:+80℃/min(100℃时),-50℃/min(100℃时)
加热/制冷精度:±0.25℃
温度分辨率:0.01℃
温度稳定性:±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
软件功能:可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线
电学参数
探针:默认为铼钨材质的弯针探针可选其他种类电极
探针座:杠杆式探针支架,点针力度更大,电接触性更好
点针:手动点针,每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口:默认为BNC接头,可选三同轴接口*可增设腔内接线柱(样品接电引线)
样品台面电位:默认为电接地,可选电悬空(作背电极),可选三同轴接口
非磁性改造:台体可改用非磁性材质制造,用于变温霍尔效应探针测试
光学参数
适用光路:反射光路
窗片:可拆卸与更替的窗片
物镜工作距离:8.5 mm
透光孔:台面默认无通光孔,可增设通光孔以支持透射光路
上盖窗片观察:窗片范围φ38mm,视角±60.7°
负温下窗片除霜:真空
结构参数
加热区/样品区:Ø 30 mm
样品腔高:6.3 mm *样品厚度由探针决定
放样:打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针
气氛控制:气密腔,可充入保护气体*另有真空腔型号
外壳冷却:可通循环水,以维持外壳温度在常温附近
安装方式:水平安装或垂直安装
台体尺寸/重量:210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g
测试功能(测试曲线)
介电温谱(频谱)高温绝缘电阻(体积电阻率)热释电TSDC
可扩展部件(常见仪表)
高阻计数字源表高压电源(进行高压下TSDC测量) 高低温介电温谱测量
应用领域
材料科学与工程
电子与半导体行业
新能源与汽车工业
生物医学与化学研究