产品详情
  • 产品名称:高低温冷热台介电温谱测试仪

  • 产品型号:
  • 产品厂商:华测
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简单介绍:
华测仪器生产的高低温介电温谱测试仪,可配合阻抗分析仪、高阻计、电化学工作站、数字源表设备进行功能材料电学的相关测试,也可进行电阻测试、TSDC 等测量功能,能够在不同测量条件和测量模式下进行测量。
详情介绍:

高低温冷热台介电温谱测试仪

产品优势

优化样品温度的测量方式及测量电极

1.在样品上溅射一层导电材质,减少空间及杂散电容的影响;

2.采用参比样品的方式进行测量,样品的温度就是材料真实温度。

解决高温环境下测量导线阻抗影响及内部障蔽

1.采用阻抗更匹配的测量导线;

2.缩短测量导线提高测量数据;

3.采用平行板法测量。

产品参数

温控参数

温度范围:-185℃~ 600℃(负温需配液氮制冷系统)

传感器/温控方式:100Ω铂RTD / PID控制(含LVDC降噪电源)

加热/制冷速度:+80℃/min(100℃时),-50℃/min(100℃时)

加热/制冷精度:±0.25℃

温度分辨率:0.01℃

温度稳定性:±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)

软件功能:可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线

电学参数

探针:默认为铼钨材质的弯针探针可选其他种类电极

探针座:杠杆式探针支架,点针力度更大,电接触性更好

点针:手动点针,每个探针座都可点到样品区上任意位置

探针接口:默认为BNC接头,可选三同轴接口*可增设腔内接线柱(样品接电引线)

样品台面电位:默认为电接地,可选电悬空(作背电极),可选三同轴接口

非磁性改造:台体可改用非磁性材质制造,用于变温霍尔效应探针测试

光学参数

适用光路:反射光路

窗片:可拆卸与更替的窗片

物镜工作距离:8.5 mm

透光孔:台面默认无通光孔,可增设通光孔以支持透射光路

上盖窗片观察:窗片范围φ38mm,视角±60.7°

负温下窗片除霜:真空

结构参数

加热区/样品区:Ø 30 mm

样品腔高:6.3 mm *样品厚度由探针决定

放样:打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针

气氛控制:气密腔,可充入保护气体*另有真空腔型号

外壳冷却:可通循环水,以维持外壳温度在常温附近

安装方式:水平安装或垂直安装

台体尺寸/重量:210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g

测试功能(测试曲线)

介电温谱(频谱)高温绝缘电阻(体积电阻率)热释电TSDC

可扩展部件(常见仪表)

高阻计数字源表高压电源(进行高压下TSDC测量) 高低温介电温谱测量

应用领域

材料科学与工程

电子与半导体行业

新能源与汽车工业

生物医学与化学研究

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