产品详情
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Huace绝缘电阻劣化/离子迁移评估系统
产品简介
绝缘电阻劣化/离子迁移评估系统由华测仪器生产，是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响。产品参数
测量电压:100 ~ 1500V（可定制）
测试通道:128通道（可定制至高960通道）
测试时长:可连续运行1500小时
测试温度:85℃（可定制）
测试湿度:85%（可定制）
测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
极化电压:100 ~ 1500V（可定制）
扫描周期:至快2分钟（128通道）
环境试验箱（可定制）
应用领域
电子材料：印BGA、CSP等节距IC封装件；
封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板材料；
有机半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料；
绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估。
