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华测仪器 表面电位衰减测试系统
产品简介表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的多功能分析设备，能够评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布，系统集高压极化、准确温控、快速信号采集及智能化分析于一体，支持针、栅、板三种电极配置，可模拟不同温湿度环境下的材料电荷动态响应，为绝缘材料、功能薄膜、电子器件等领域的研究与质量控制提供数据支持。
技术参数
充电电源：±30 kV
加热台温度范围：室温 ~ 160 ℃
控温精度：± 0.2 ℃
输入电压：AC 220 V ±10%，50 HZ
额定输出电压：0～+30kV
额定输出电流：≤ 1 mA
温度系数：≤ 0.1 %/℃
测量范围：0 ~ ±10 kV
稳定性：时间漂移<100 ppm/小时（非累积）；温度漂移<200 ppm/℃
极化电极：针、栅、板电极
电极材质：银或黄铜
应用领域
绝缘材料研发
评估高压电缆、电容器薄膜等介电材料的耐压性能与电荷消散特性；
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性电子器件的表面电荷行为及陷阱效应；
半导体器件优化
表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布，提升器件可靠性；
科研与教育
高校及实验室用于电介质物理、材料科学等领域的基础研究与教学实验；
电力设备质检
检测绝缘子、变压器套管等电力装备的绝缘老化状态及寿命预测。
