功能薄膜表面电位衰减测试系统
产品介绍
表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高准度、多功能分析设备，为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计，集高压极化、准确温控、快速信号采集及智能化分析于一体，支持针、栅、板三种电极配置，可模拟不同温湿度环境下的材料电荷动态响应，为绝缘材料、功能薄膜、电子器件等领域的研发与质量控制提供数据支持
应用领域
绝缘材料研发
评估高压电缆、电容器薄膜等介电材料的耐压性能与电荷消散特性
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性电子器件的表面电荷行为及陷阱效应
半导体器件优化
表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布，提升器件可靠性
科研与教育
高校及实验室用于电介质物理、材料科学等领域的基础研究与教学实验
电力设备质检
检测绝缘子、变压器套管等电力装备的绝缘老化状态及寿命预测
公司简介
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
