产品详情
简单介绍：
TEC 冷热台是基于帕尔贴效应设计的高精度温控实验设备，集温度控制与高透光观测于一体。利用半导体热电转换特性为样品提供可控高低温环境，支持与显微镜、光谱仪等光学设备联用，实现变温过程中原位光学观测与性能测试。无需制冷剂、无机械运动部件，解决传统制冷设备振动、需耗材、控温响应慢等问题，适用于对环境稳定性要求高的测试场景。
详情介绍：
半导体器件温控特性测试TEC冷热台
应用领域
材料科学
相变、热膨胀、热电性能研究
半导体与电子器件
温控特性测试
光学与光谱学
拉曼、荧光、红外光谱原位变温测试
化学与催化反应
变温反应过程观测
教学与工业检测
温控环境下的质量检测
参数规格
冷热方式：TEC (帕尔贴)
温度范围：-40℃~150℃
温度稳定性：±0.1℃
升温速率：0~30℃/min (可调)
降温速率：0~30℃/min (可调)
载样台尺寸：40mm×40mm
光路：反射/ 透射 (可选配)
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
