产品详情
简单介绍：
表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高准度、多功能分析设备，为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计，集高压极化、准确温控、快速信号采集及智能化分析于一体，支持针、栅、板三种电极配置，可模拟不同温湿度环境下的材料电荷动态响应，为绝缘材料、功能薄膜、电子器件等领域的研发与质量控制提供数据支持
详情介绍：
高压电缆介质电荷衰减分析仪
高压极化与准确控制
支持±30 kV宽范围高压输出，负载调整率≤0.5%，稳定性≤0.1%/h，确保极化过程稳定可靠
高精度控温加热台（室温~160℃，±0.2℃），结合湿度可调电极箱体，满足复杂环境模拟需求
高灵敏测量与快速响应
电位测量范围达±10 kV，精度1 V，采集频率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速响应，准确捕捉瞬态电位变化
配备采集卡与中文分析软件，自动提取陷阱分布参数，一键生成衰减曲线及分析报告
灵活电极配置与集成化设计
提供银/黄铜材质针、栅、板电极，电极间隙0~100 mm动态可调，适配不同样品形态与测试场景
集成化电极箱体整合加热台、支架及湿度模块，大幅提升实验效率与重复性
高稳定性与防护性
电压调整率≤0.1%，温度系数≤0.1%/℃，确保长时间测试数据一致性；输出电流限定≤1 mA，符合高压操作防护标准
参数规格
充电电源：±30 kV
加热台温度范围：室温~ 160 ℃
控温精度：± 0.2 ℃
输入电压：AC 220 V ±10%，50 HZ
额定输出电压：0～+30kV
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
