产品详情
简单介绍：
多通道介电性能分析测试模块是一种集成化测试系统，主要用于准确地评估材料的介电性能与电阻特性，可以搭载阻抗分析仪、高阻计等设备使用，此测试模块稳定性强、实现智能化与自动化、可靠耐用、模块化设计，应用在材料科学、新能源、半导体领域等领域
详情介绍：
半导体器件电学多通道LCR测试模块
操作系统
LCR多路测试软件
1.扫描、比较器
针对各个通道设置测试条件(量程、频率、比较器等)
可选定某个通道的ON与OFF
可循环进行扫描测试
同时可在本地保存测试条件
2.OPEN&SHORT补偿
可对应各通道的开短路补偿
如若利用LCR的设置切换功能则需要较长的切换时间，在软件内进行开短路补偿计算，可维持高速的扫描时间
3.数据保存
扫描的数据可根据通道进行保存
参数规格
支持的仪器：Keysight、Tonghui、Wayne Kerr、HIOKI、Huace等仪表
通道数：10通道
回路电阻：0.5Ω(输入-输出端子、参考値)
静电电容：0.2 pF(输入端子-OFF通道间、有Guard、参考値)
接点规格：输入电压1000V
允许电流容量：200 mA ( AC peak/DC )
绝缘电阻：100 TΩ以上(通道-外壳之间/通道屏蔽层-外壳之间( LCUR除外) )
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
