产品详情
  • 产品名称:半导体封装CTI/PTI耐电痕化表征试验仪

  • 产品型号:HCLD-2
  • 产品厂商:华测仪器
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简单介绍:
固体绝缘材料漏电起痕试验设备由华测仪器生产,采用高度集成化设计,内置基于Labview系统开发的智能测试软件,操作简单,可实现实验过程的无人化,并有断电资料保存功能,可实现数据图像的保存恢复,支持测试标准。耐漏电起痕试验是评价电工电子产品中使用的固体绝缘材料优劣的重要指标,应用于电工电子、电器、半导体封装、信息技术设备等领域
详情介绍:

半导体封装CTI/PTI耐电痕化表征试验仪

参数规格
产品型号:HCLD-2
试验电压:25 ~ 800V可调
电极距离:4.0mm±0.1mm,夹角60°±5
电极压力:1.0±0.05N(可调)
操控方式:12寸触摸屏
试验终止:50滴或100滴或漏电流≥0.5A并维持时间≥2s
供电电源:220V 50Hz 10A
应用领域
1.家用电器与消费电子
2.汽车工业
3.电力与能源设备
4.工业控制与电子仪器
5.材料研发生产
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

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