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  • 产品名称：电路板SIR绝缘电阻劣化测试系统

  • 产品型号：
  • 产品厂商：华测仪器
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简单介绍：
电子材料测量离子迁移评估系统是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响
详情介绍：

电路板SIR绝缘电阻劣化测试系统

参数规格
测量电压:100 ~ 1500V（可定制）
测试通道:128通道（可定制至960通道）
测试时长:可连续运行1500小时
测试温度:85℃（可定制）
测试湿度:85%（可定制）
测量范围:1×10^5~ 1×10^15Ω
极化电压:100 ~ 1500V（可定制）
扫描周期:至快2分钟（128通道）
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

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