产品详情
简单介绍：
电子材料测量离子迁移评估系统是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响
详情介绍：
印刷电路板PCB离子迁移评估系统
参数规格
测量电压:100 ~ 1500V（可定制）
测试温度:85℃（可定制）
测试湿度:85%（可定制）
测量范围:1×10^5~ 1×10^15Ω
应用领域
电子材料：印BGA、CSP等精细节距IC封装件
封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料
半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等
电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料
绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
