产品详情
简单介绍：
电子材料测量离子迁移评估系统是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响
详情介绍：
IC封装件绝缘电阻劣化评估系统
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参数规格技术指标
测试时长:可连续运行1500小时
测量范围:1×10^5~ 1×10^15Ω
极化电压:100 ~ 1500V（可定制）
扫描周期:至快2分钟（128通道）
环境试验箱（可定制）
恒温试验箱
型号：HC-80
温度范围：RT~＋100℃
内部容积（L）：80
型号：HC~512
温度范围：RT~＋200℃
内部容积（L）：512
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
