文章详情

电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件

日期：2024-05-02 22:30

浏览次数：385

摘要：电弱点测试仪试验时的薄膜取样、预处理条件和试验条件

取样、预处理条件和试验条件

1.取样

从薄膜卷上取样时，应至少先去掉其外三层薄膜，然后，再按性能的要求取样及制样。取样时的环境条件同试验条件。北京华测HCRD-300型电弱点测试仪可根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试，测试宽度根据用户的要求而调整设定，无须将薄膜分切成小卷

2.预处理条件

除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,作为样品的薄膜卷应在温度23土2℃、相对湿度 50%士5%下至少放置24 h（小时）,取好的试样应在该条件下处理1h（小时）。

3.试验条件

除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外，试验应在温度23士2℃、相对湿度50%士5%、环境洁净度不大于3000级的条件下进行。

*电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件*