高温四探针测试仪测试电阻率的原理和介绍

那么高温四探针测试仪的测量原理是什么呢？

       测量电阻率的方法很多，如三探针法、电容 -电压法、扩展电阻法等，四探针法则是种广泛采用的标准方法，高温四探针测试仪采用经典直排四探针原理，同时采用了双电测组合四探针法。

直排四探针法

       经典的直排四探针法测试电阻率，要求使用等间距的探针，如果针间距离不等或探针有游移，就会造成实验误差。当被测片较小或在大片边缘附近测量时，要求计入电场畸变的影响进行边界修正。

       采用双电测组合四探针的出现，为提高薄膜电阻和体电阻率测量准确度创造了有利条件。

       目双电测组合（亦称双位组合）四探针法有三种模式：模式（1），模式（2），模式（3），高温四探针测试仪采用模式（2），通过用计算机对三种模式的理论进行比较研究的结果表明：对无穷大被测片三种模式都样，可是测量小片或大片边缘位置时，模式（2）更好，它能自动消除边界影响，略优于模式（3），更好于模式（1）。

那么高温四探针测试仪采用双电测组合四探针法有哪些优势呢？
1、采用双电测组合四探针法进行测试，测试结果与探针间距无关，能够消除间距不等及针尖机械游移变化的影响，因此四探针测试台允许使用不等距探针头。
2、采用双电测组合四探针法具有自动修正边界效应的功能，对小尺寸被测片或探针在较大样品边缘附近时，不需要对样品做几何测量，也不必寻找修正因子。
3、采用双电测组合四探针法，不移动四探针针头，同时使用三种模式测量，即可计算得到测试部位的电阻均匀性。
       H-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
       双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高**度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

     H-800系列采用*******电子护系统，设备的**性；选用进口热电偶保定温度的采集有效值、采用***的SPWM电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。

    H-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。

    高精准度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。

    针对高温四探针测试仪做了多项**设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的**；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。

产品应用

• 应用域
• 多晶硅材料
• 石墨烯材料
• 石墨功能材料
• 半导体材料
• 导电功能薄膜材料
• 错类功能材料
• 导电玻璃（ito)材料
• 柔性透明导电薄膜
• 其它导电材料等

高温四探针测试仪测试电阻率的原理和介绍

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