华测仪器 封装材料塞贝克系数电阻测定仪的产品参数及特点
华测仪器 封装材料塞贝克系数电阻测定仪的产品参数及特点
产品简介
半导体塞贝克系数电阻测试仪由华测仪器生产,是一款简单易用的材料表征仪器,可以同时测定样品在RT至1500℃温度范围内的塞贝克系数和电阻率,该产品具有宽温区覆盖、高适应性和多功能集成等特点,主要服务于热电材料研发、新能源器件测试及半导体性能分析等领域。
产品参数
01.温度范围:RT~800/1100/1500℃
02.测量原理:塞贝克系数:静态直流法;电阻率:四端法
03.气氛:惰性、氧化、还原、真空
04.样品支架:三明治结构夹与两电极之间
05.样品尺寸(园柱形或棱柱形):2至5mm(面宽),23mm,中6mm,23mm
06.样品尺寸(园盘状):10、12.7、25.4 mm
07.可调探头距离:4、6、8mm
08.塞贝克系数测量范围:1~ 2500uV/K准确度±7%;重复性±3%
09.电导率测量范围:0.01~2*10^5s/cm准确度±5-8%;再现性±3%
10.电源:0~ 1A,具长期稳定性
11.电极材料:镍(-100至500“C)/铂(-100至+1500°C)
12.热电偶:K/S/C型
产品特点
01.文本编辑
02.重复测量可少的输入参数
03.实时测量分析
04.测量曲线比较:多达32条曲线
05.曲线扣除
06.曲线放大缩小
07.一阶/二阶求导
08.多重峰分析
09.样品温度多点校正
10.多种方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓变多点校正
12.热流Cp测量
13.评估结果保存及导出
14.ASCII数据导入与导出
15.数据生成到MS Excel
16.信号控制测量测序