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在环氧塑封料 HTRB 性能预判中半导体高低温绝缘电阻测试系统的应用

日期:2026-06-16 15:45
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摘要: 在环氧塑封料 HTRB 性能预判中半导体高低温绝缘电阻测试系统的应用 环氧塑封料(EMC)是微电子器件主流封装材料,承担电气绝缘、防潮防护、机械加固等作用。高温反向偏压(HTRB)是考核高功率半导体器件长期可靠性的核心项目,而塑封料高低温绝缘电阻、电阻率的变化特性,与器件 HTRB 失效风险直接相关。Huace SIR-450 半导体高低温绝缘电阻测试系统,依托宽温域测试、飞安级弱信号采集能力,可准确表征 EMC 温变绝缘特性,提前预判封装器件 HTRB 性能,成为半导体封装材料研发与品质验证的核心设备。 一、环氧塑封料传统测试...

在环氧塑封料 HTRB 性能预判中半导体高低温绝缘电阻测试系统的应用

环氧塑封料(EMC)是微电子器件主流封装材料,承担电气绝缘、防潮防护、机械加固等作用。高温反向偏压(HTRB)是考核高功率半导体器件长期可靠性的核心项目,而塑封料高低温绝缘电阻、电阻率的变化特性,与器件 HTRB 失效风险直接相关。Huace SIR-450 半导体高低温绝缘电阻测试系统,依托宽温域测试、飞安级弱信号采集能力,可准确表征 EMC 温变绝缘特性,提前预判封装器件 HTRB 性能,成为半导体封装材料研发与品质验证的核心设备。
一、环氧塑封料传统测试存在的难点
环氧塑封料属于高分子聚合物,具备高温负阻特性,温度越高绝缘电阻率下降越明显,也是诱发器件 HTRB 失效的重要诱因。常规设备一方面温区覆盖不足,无法模拟器件低温存储、高温工作的全场景;另一方面 EMC 属于高阻材料,测试过程中电网谐波、线路漏电流、瞬时充电干扰极易造成微弱电流信号失真,难以准确测得真实绝缘电阻数值。同时样品受热存在滞后性,测温与取样不同步,进一步降低试验数据的参考价值。
二、宽温域可控升温,还原器件实际服役工况
设备温控范围覆盖 -100℃~350℃,控温精度达 0.5℃,升温速率可按需设定,支持匀速升温、阶梯升温、热循环等多种试验模式,完整复现半导体器件从低温环境到高温满载运行的温度变化过程。系统设置温度保持与测量等待机制,预留充足时间让样品整体受热均匀,减小温度滞后带来的测试误差,准确捕捉不同温度节点下塑封料电阻率的衰减规律。
三、强抗干扰设计,实现高阻准确测量
针对高阻材料弱信号检测需求,设备搭载专用抗干扰模块,滤除电网谐波干扰。配合自动平均值算法,剔除电流瞬态波动、接触不稳带来的异常数据,搭配大口径三轴连接器,兼顾信号稳定性与高压防护。
四、标准化夹具结构,适配封装试样检测
采用黄铜 / 银质电极搭配 99 氧化铝陶瓷绝缘辅材,绝缘性能良好,可避免夹具自身漏电影响测试结果。设备适配直径小于 25mm、厚度小于 4mm 的常规 EMC 标准试样,装夹便捷、结构稳定,可实现多配方、多批次样品平行对比测试,便于研发人员快速筛选原料配比。
五、智能软件平台,提升试验管理效率
配套 Huacepro 测控软件兼容主流 Windows 系统,提供中英文操作界面,试验状态实时可视化监测。软件集成权限管理、故障告警、断电数据保存功能,意外断电后可恢复试验数据,避免长时间测试前功尽弃。测试结束后可自定义报表格式,一键导出 Excel、PDF 报告,方便数据归档、对比分析与技术溯源。

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