产品详情
简单介绍：
自动电平控制10Hz-1MHz阻抗分析仪是由华测仪器****生产，阻抗分析仪是一种电子测试仪器。它可以测量复数电阻随测试频率的变化。阻抗是表征电子元器件，电子电路和元件材料的一个很重要的参数。另外，阻抗分析可以还被应用到介电材料，比如生物组织，食品和地质样本中。
详情介绍：
自动电平控制10Hz-1MHz阻抗分析仪
产品优势
1.信号源频率范围广-信号源频率范围： DC：10Hz-1/3/5/10/20/30/50MHz；2.高精度-基本阻抗测量精度：±0.05%；
3.ALC功能-自动电平控制（ALC）功能；
4.输出阻抗切换-输出阻抗25Ω/100Ω切换；
5.搭配多种夹具-提供电表模式、多步测试并搭配测试夹具，如液体用夹具、介电常数夹具等；
6.显示-电表模式下可显示四个元件参数，电感值及DCR值可同时显示；
7.校正功能-开路/短路/负载校正功能；
8.超快测量速度-超快测量速度<3ms;
9.分类功能-可同时测量和显示自动无条件分类：比较器功能及Handler接口BIN分类功能；
10.接口-支持RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device等接口；
11.测试领域-适用于开发、实验室等测试领域；
12.操作软件-可加购操作软件、采集分析测量数据。
产品参数
1.测试频率：10Hz-1MHz2.测量频繁率解析度：六位数
3.频率输出准确度：7ppm ±0.01%
4.基本准确度：±0.05%
5.AC测试信号精度
5.1测试信号电压范围：10mV-2Vrms
5.2电压分辨率：1mV
5.3准确度：ALC OFF ：10% * 设定电压 ±2Mv
ALC ON：6% * 设定电压 ±2mV
5.4测试信号电流范围：200μA-20mArms
5.5电流小分辨率：10μA
5.6准确度：ALC OFF ：10% * 设定电流 ±20μA
6.DC测试信号精度：1V（固定）
7.输出阻抗：25Ω、100Ω（可切换）
8.测量时间 ( 快 ) ：<3mS
9.测量参数和显示范围
BIN
9.1 | Z |：0.000m-9999.99M
9.2 R, X：±0.000mΩ-9999.99MΩ
9.3 | Y |：0.00000μS-999.999kS
9.4 G, B：±0.00000Μs-999.999kS
9.5 θRAD：±0.00000-3.14159
9.6 θDEG：±0.000° -180.000°
9.7 Cs, Cp：±0.00000pF-9999.99F
9.8 Ls, Lp：±0.00nH-9999.99kH
9.9 D：0.00000-9999.99
9.10 Q：0.00-9999.99
9.11 Δ：±0.00%-9999.99%
9.12 R d c：0.00m-99.9999MΩ
9.13 εr' ε r '：0-100000
9.14 μr' μr''：0-100000
规格
1.测量模式：电表模式、多步测试2.等效电路：串联、并联
3.校正：开路、短路、负载
4.线长补偿：0/0.5/1/2m
5.多步测试：50组 ，每组15个测试步骤
6.BIN分类：9级
7.比较器：ABS、Δ ABS、Δ % OFF
8.内部存储：100组LCR Meter测试设定文件、50组多步测试设置
9.USB Host储存：LCR Meter测试设定文件、多步测试设定文件、BMP图像
10.触发测试方式：自动、手动、RS-232、GPIB、Handler
11.通讯方式：RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device
12.电源供电：电压 90-264Vac
频率 47-63Hz
低功耗：30W
13.显示方式：7寸TFT, 彩色显示（800*480）
14.操作环境：温度：10-40℃、湿度：20-90%RH
15.外观尺寸(W*H*D) ：336x147x340 mm
16.重量：3Kg
应用领域
应用到介电材料，比如生物组织，食品和地质样本中。
