产品详情
  • 产品名称:半导体塞贝克系数电阻测试仪

  • 产品型号:HC-RD-1100
  • 产品厂商:华测
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简单介绍:
半导体塞贝克系数电阻测试仪是由华测仪器****生产的一款简单易用和优异的材料表征仪器,可以同时测定样品在RT至1500°C温度范围内的塞贝克系数和电阻率,主要服务于热电材料研发、新能源器件测试及半导体性能分析等领域。
详情介绍:

半导体塞贝克系数电阻测试仪

产品特点

01.文本编辑
02.重复测量可少的输入参数
03.实时测量分析
04.测量曲线比较:多达32条曲线
05.曲线扣除
06.曲线放大缩小
07.一阶/二阶求导
08.多重峰分析
09.样品温度多点校正
10.多种方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓变多点校正
12.热流Cp测量
13.评估结果保存及导出
14.ASCII数据导入与导出
15.数据生成到MS Excel
16.信号控制测量测序

产品优势

1.宽温区覆盖与高适应性
支持 RT 至 1500℃ 超宽温度范围,兼容低温至超 高温测试,满足热电材料、高温合金等多种材料研究需求;
提供惰性、氧化、还原、真空多气氛环境,适配材料在不同反应条件下的性能评估。
2.高精度与多功能集成
塞贝克系数电阻测试仪塞贝克系数测量范围 1~2500μV/K ,准确度达 ±7% ,重复性 ±3% ,准确捕捉微弱热电效应;
电导率测量范围覆盖 0.01~2×10^5S/cm ,准确度 ±5~8% ,支持从绝缘体到导体的全品类材料电阻率分析;
采用静态直流法(塞贝克系数)与四端法(电阻率),确保测量结果稳定可靠。
3.灵活兼容性与操作便捷性
支持圆柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面宽)及圆盘状(10~25.4mm)多种样品尺寸,适配复杂形状试样;
可调探头距离(4/6/8mm)与三明治夹持结构,保障样品接触稳定性,减少测量误差;
电极材料可选镍(-100~500℃)或铂(-100~1500℃),灵活应对不同温区与材料特性。
4.高稳定性与长周期测试能力
电源输出 0~1A ,具备长期稳定性,支持连续高温实验与长时间数据采集;
配备K/S/C型热电偶,实现准确温度监控与闭环控制。

产品参数

01.温度范围:RT~800/1100/1500°0
02.测量原理:塞贝克系数:静态直流法;电阻率:四端法
03.气氛:惰性、氧化、还原、真空
04.样品支架:三明治结构夹与两电极之间
05.样品尺寸(园柱形或棱柱形):2至5mm(面宽),23mm,中6mm,23mm
06.样品尺寸(园盘状):10、12.7、25.4 mm
07.可调探头距离:4、6、8mm
08.塞贝克系数测量范围:1~ 2500uV/K准确度±7%;重复性±3%

09.电导率测量范围:0.01~2*10^5s/cm准确度±5-8%;再现性±3%
10.电源:0~ 1A,具长期稳定性
11.电极材料:镍(-100至500“C)/铂(-100至+1500°C)
12.热电偶:K/S/C型

应用领域

01.热电材料开发与性能优化
测量半导体、方钴矿、Skutterudite等热电材料的塞贝克系数与电导率,计算ZT值(热电优值)评估材料在高温(如1500°C)或特定环境(真空/还原气氛)下的热电转换效率
02.能源材料与器件研究
锂离子电池电极材料、因态电解质的电阻率与界面接触特性分析燃料电池催化剂在氧化/还原气氛中的导电性能测试
03.电子与功能材料表征
半导体薄膜、导电高分子、金属氧化物的电输运特性研究高温超导材料、陶瓷基复合材料的电阻-温度关系曲线测定
04.工业材料质量控制与工艺优化

合金、陶瓷、碳材料的热-电协同性能检测,指导烧结工艺参数调整高温涂层、耐腐蚀材料在模拟工况(如真空、惰性气氛)下的电学行为评估
05.科研与标准化测试
高校及科研院所用于热电效应、导电机制等基础理论研究依据国际标准(如ASTM E1225)开展材料热电性能认证测试

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