华测仪器高低温介电温谱测试仪

产品优势

优化样品温度的测量方式及测量电极

1.在样品上溅射一层导电材质，减少空间及杂散电容的影响；

2.采用参比样品的方式进行测量，样品的温度就是材料真实温度。

解决高温环境下测量导线阻抗影响及内部障蔽

1. 采用阻抗更匹配的测量导线；

2. 缩短测量导线；

3. 采用平行板法测量，起到更好的屏蔽作用。

解决电网谐波对采集数据的影响

华测仪器采用了直流加热方式进行加热，同时加入滤波等方式以更好地减少电网谐波在测量过程中的影响。

参数规格

温控参数

温度范围：-185℃~ 600℃（负温需配液氮制冷系统）

传感器/温控方式：100Ω铂RTD / PID控制（含LVDC降噪电源）

加热/制冷速度：+80℃/min（100℃时），-50℃/min（100℃时）

加热/制冷精度：±0.25℃

温度分辨率：0.01℃

温度稳定性：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

软件功能：可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线

电学参数

探针：默认为铼钨材质的弯针探针*可选其他种类电极

探针座：杠杆式探针支架，点针力度更大，电接触性更好

点针：手动点针，每个探针座都可点到样品区上任意位置

探针接口：默认为BNC接头，可选三同轴接口*可增设腔内接线柱（样品接电引线）

样品台面电位：默认为电接地，可选电悬空（作背电极），可选三同轴接口

非磁性改造：台体可改用非磁性材质制造，用于变温霍尔效应探针测试

光学参数

适用光路：反射光路

窗片：可拆卸与更替的窗片

物镜工作距离：8.5 mm

透光孔：台面默认无通光孔，可增设通光孔以支持透射光路

上盖窗片观察：窗片范围φ38mm，视角±60.7°

负温下窗片除霜：真空

结构参数

加热区/样品区：Ø 30 mm

样品腔高：6.3 mm *样品厚度由探针决定

放样：打开上盖后置入样品再点针，关上盖后无法移动探针

气氛控制：气密腔，可充入保护气体*另有真空腔型号

外壳冷却：可通循环水，以维持外壳温度在常温附近

安装方式：水平安装或垂直安装

台体尺寸/重量：210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g

测试功能（测试曲线）

介电温谱（频谱）高温绝缘电阻（体积电阻率）热释电TSDC

可扩展部件（常见仪表）

高阻计数字源表高压电源（进行高压下TSDC测量） 高低温介电温谱测量

产品特点

1测量方式

解决了测量温度、测量导线、电网谐波干扰，以及测量延长导线阻抗对测量数据的影响。

2. 完善的测量功能

增加了TSDC、热释电、电阻、击穿等测量功能。方便扩展高低温测试环境。在功能材料的电学测试，可轻松实现一套系统完成大多电学测试。

3. 严格的质量管控

严格做好每一款产品质量把控，从原器件采购、到生产过程的质量控制,到产成品计量检测,严格质量把控,确保生产合格的科研仪器。

使用环境建议

使用温湿度范围：0℃~40℃、80% Rh以下，未结露

保存温湿度范围：-10℃~50℃、80% Rh以下，未结露

电源额定功率：AC 220 V (50 Hz/60 Hz) 6kVA

使用建议：因仪器属高温设备，使用时请远离易燃、易爆物品，同时做好接地保护

应用领域

材料科学与工程

电子与半导体行业

新能源与汽车工业

生物医学与化学研究