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华测仪器 HCCT-40H 薄膜电容器温度特性评估仪
产品简介HCCT-40H薄膜电容器温度特性评估仪由华测仪器生产，是将环境试验箱与仪器相结合，效率采集数据的自动化多通道测量仪。
仪器自动评估测量高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性和电容器在不同温度下的关键参数，从而评估其温度特性；该仪器稳定可靠，通道数量多，具有多种测试模式，多种可选夹具，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。
产品优势
01 至多64个通道的自动测量
设备可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道。
02 图形功能允许实时查看测量结果
设备可收集测试的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。
03 可从不同测试模式选择
设备可选择不同的测试模式：温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验，且可以与温度特性评价测试或恒定运行测试相合。
温度特性评估测试：在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步，频率步数201步（范围可定制）。
持续运行测试：测试模式测量参数的变化随时间推移自动记录数据。
频率特性评价试验：试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。
04 多种可选夹具 适用于不同的试验样本
除了SMD组件的专用夹具外，系统还提供了根据离散设备形状定制的夹具，也可定制环境试验箱。
