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  • 产品名称：封装件SIR多通道绝缘电阻测试系统

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  • 产品厂商：华测仪器
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简单介绍：
多通道绝缘电阻离子迁移测试系统是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响
详情介绍：

封装件SIR多通道绝缘电阻测试系统

参数规格
技术指标
测量电压:100 ~ 1500V（可定制）
测试通道:128通道（可定制至960通道）
测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
应用领域
电子材料：印BGA、CSP等精细节距IC封装件
封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料
半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等
电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料
绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.

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