产品详情
简单介绍：
表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高准度、多功能分析设备，为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
详情介绍：
绝缘介质检测电荷衰减测试仪
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参数规格充电电源：±30 kV
加热台温度范围：室温~ 160 ℃
控温精度：± 0.2 ℃
输入电压：AC 220 V ±10%，50 HZ
额定输出电压：0～+30kV
额定输出电流：≤ 1 mA
测量范围：0 ~ ±10 kV
稳定性：时间漂移<100 ppm/小时（非累积）；温度漂移<200 ppm/℃
极化电极：针、栅、板电极
应用领域
绝缘材料研发
评估高压电缆、电容器薄膜等介电材料的耐压性能与电荷消散特性
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性电子器件的表面电荷行为及陷阱效应
半导体器件优化
表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布，提升器件可靠性
科研与教育
高校及实验室用于电介质物理、材料科学等领域的基础研究与教学实验
电力设备质检
检测绝缘子、变压器套管等电力装备的绝缘老化状态及寿命预测
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
