产品详情
简单介绍：
TEC 冷热台是基于帕尔贴效应设计的高精度温控实验设备，集温度控制与高透光观测于一体。
详情介绍：
原位光谱采集帕尔贴冷热台
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产品优势控温性能
温度范围-40℃~150℃，温度稳定性 ±0.1℃，支持 0~30℃/min 可调升降温速率，可程序段控温，电流调节响应速度达毫秒级。
光学兼容性强
开放式光路无遮挡，窗口材质可按观测波段定制更换，适配多种光学测试场景。
适配性广
样品台尺寸、腔室类型、视窗规格可定制，可与显微镜、光谱仪等光学设备联用，体积小巧无机械振动，适合受限环境。
操作便捷环保
配备智能化温控软件，支持远程操控与数据导出，无需液氮、氟利昂等制冷剂。
可拓展性强
载样台可自由组合成多工位温控模组，满足高通量测试需求。
参数规格
温度范围：-40℃~150℃
温度稳定性：±0.1℃
升温速率：0~30℃/min (可调)
降温速率：0~30℃/min (可调)
光路：反射/ 透射 (可选配)
透射光路直径：Φ2mm (可选配)
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
