产品详情
简单介绍：
探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。
详情介绍：
器件电学性能评估探针冷热台
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应用领域半导体材料与器件测试
可表征半导体材料（如硅基、化合物半导体）在不同温度下的电学性能，适用于MOSFET、二极管、晶体管等器件的变温I-V/C-V特性测试。
介电、铁电与压电材料研究
用于研究介电常数、铁电滞回线、压电响应随温度变化的规律，适用于新型功能材料的研究与开发。
与低维结构电学表征
如石墨烯、二维材料（MoS₂、WS₂等）等在变温环境下的导电性能测试。
超导材料研究
液氮制冷可实现低温至-180℃，适用于超导材料的临界温度（Tc）测试及低温电输运特性研究。
相变材料与存储器件
研究相变存储器（如GST材料）在温度变化下的电阻切换行为，评估其热稳定性与可靠性。
参数规格
温控模块
冷热方式：液氮制冷，电阻加热
温控范围：-180℃~600 ℃/RT~1000℃（选型）
温度稳定性：±0.1 ℃
光学特性
光路：反射光路，可升级为透射光路
视窗材质：石英玻璃（可定制）
视窗尺寸：Φ25 mm
物镜工作距离：10 mm
公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
