产品详情
  • 产品名称:SMD贴片电容器温度特性评估系统

  • 产品型号:HCCT-40H
  • 产品厂商:华测仪器
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简单介绍:
多通道电容器温度特性评估系统的功能包括静态电容(C₀)批量测试、异常阵元自动识别以及测试报告规范归档。
详情介绍:

SMD贴片电容器温度特性评估系统

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操作系统
校准功能:一键启动电缆线校准、开短路校准,校准结果自动保存,校准失败时给出提示(如“校准异常,请检查测试线连接”);支持校准日志查询、导出。
测试功能:选择被测物型号后,一键启动批量测试,自动完成阵元扫描、数据采集;检测过程支持暂停、终止操作,全程实时刷新采集数据。
异常分析功能:内置异常判据,自动识别开路、短路阵元,统计异常数量、异常通道号,生成分析结论;支持按不同被测物型号自定义异常判定阈值。
报告生成与归档:测试完成后,自动生成图片、Excel两种格式报告,报告生成后支持在线预览;系统自动按被测物型号新建存储文件夹并保存文件,用户可手动自定义存储路径、文件夹命名。
数据管理:可按被测物型号、测试日期筛选检索历史检测数据;Excel 报告支持编辑,图片报告可单独导出;冗余报告可手动删除,释放设备存储空间。


参数规格
电容测量范围:1pF ~ 1μF
测量准度:±0.3%
测试频率:固定1kHz
测试电平:0.1V~0.3V
测量模式:Cp并联电容模式,适配电容测量特性


公司介绍
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

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